[ e-news, 19 Marzo 2009 ]
Il periodico EDN, conosciuto ed apprezzato per il valore dei suoi contenuti, ha proposto nel fascicolo del 19 Marzo l'articolo "Isolated clock source acts as test generator" riprendendo la soluzione circuitale messa a punto nel nostro laboratorio per eseguire prove e misure di elevata qualità su schede digitali anche in presenza di rumore ed altre interferenze sul segnale. Il sistema oggetto di questo articolo era stato pubblicato in precedenza su altra rivista (vedi e-news, 25 Novembre 2008) dove ha suscitato vivo interesse tanto da trovare nuovamente spazio in un magazine a diffusione internazionale.
Tale preferenza qualifica ulteriormente il lavoro svolto dal nostro staff tecnico che ha redatto l'articolo in occasione dei test EMI svolti a sostegno degli argomenti trattati nel software Elettronica Digitale Avanzata di cui trovate i dettagli in altra pagina.
Edita negli Stati Uniti la rivista EDN quale leader nella comunicazione tecnica offre approfondimenti su prodotti e soluzioni circuitali per l'intero comparto dell'elettronica professionale.
